W. Cligor de Souza de Oliveira and A. Ricardo Zavan, “Análise de Desempenho de Scanners de Vulnerabilidades”, SETIF, vol. 1, no. 1, Dec. 2017, Accessed: Sep. 14, 2026. Available: https://tecnoif.com.br/periodicos/index.php/setif/article/view/319